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復雜電磁環(huán)境構建
電磁兼容測試
以靈活開放的技術架構高效匹配客戶個性化需求,提供柔性定制測試解決方案的能力,通過敏捷配置可滿足用戶在產(chǎn)品研制、生產(chǎn)、使用、維修等不同階段的測試需求。同時,將信息化、數(shù)字化技術與自動測試技術相結合,可為分布式、多工位、數(shù)字化、網(wǎng)絡化、無人化等測試新模式下的多類業(yè)務場景提供完整解決方案,使測試過程更高效、更智能,讓復雜測試變得更簡單。
以材料介電、吸波性能測試需求為背景,通過不同測試方法、算法的研究及系列測試夾具的研制,可滿足100MHz~500GHz全頻段以及上千攝氏度環(huán)境下的測試,解決材料電磁特性的測試難題,滿足材料科研機構及生產(chǎn)企業(yè)的測試需求。
針對射頻前端集成電路、T/R組件(數(shù)字、模擬)、微波多功能組件、無源器部件等測試對象,提供貫穿設計、研發(fā)、生產(chǎn)過程的性能功能自動檢測能力及評估能力。
應用于天線研發(fā)、生產(chǎn)、維修過程中配套天線性能參數(shù)測試領域,可實現(xiàn)微波毫米波天線的方向圖、副瓣電平、增益、軸比、極化隔離度等技術指標的自動測量,滿足常規(guī)天線、相控陣天線、DBF天線、片上型天線等各類微波毫米波天線測試需求。
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