產(chǎn)品綜述
Ceyear 3674系列矢量網(wǎng)絡分析儀是技術創(chuàng)新的巔峰之作，可以輕松應對半導體芯片測試、材料測試、天線測試、高速線纜測試、微波部組件測試等帶來的嚴峻挑戰(zhàn)。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，只需一次連接即可完成多種測量任務。創(chuàng)新的人機交互設計可幫助您快速便捷地完成所需的測量設置，超大觸摸屏為您帶來靈活、高效的操作體驗。
功能特點
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脈沖S參數(shù)測量
內置4路脈沖發(fā)生器，用于內部源調制、中頻門控制，并從后面板輸出。每路脈沖發(fā)生器的脈寬和延時獨立可設。
源調制來源包括后面板輸入、內部脈沖發(fā)生器和常開、常閉等多種狀態(tài)，既可利用外部脈沖對矢量網(wǎng)絡分析儀的源進行調制，也可以使其處于連續(xù)波狀態(tài)，通過觸發(fā)同步模式進行測量，為T/R組件、天線收發(fā)模塊等測試提供有力支撐。
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混頻器/變頻器標量測量分析
提供完善的混頻器/變頻器特性設置，支持雙階本振、外部本振源輸入；支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型；通過簡單設置可自動完成復雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計算；支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設置等。
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混頻器/變頻器矢量測量分析
提供完整的混頻器/變頻器幅度響應、絕對相位及絕對時延響應測量能力。校準過程中引入雙混頻器實現(xiàn)參考通路變頻與校準通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測件的變頻特性一致，且校準混頻器要求變頻特性互易。
單次連接即可完成混頻器/變頻器復數(shù)特性測量，幅度和相位測量精度高。
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增益壓縮測量
增益壓縮測量功能能夠通過一次連接、一次校準完成有源器件在工作頻帶內的線性增益、壓縮點增益、壓縮點輸入功率、壓縮點輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數(shù)測量。
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增益壓縮掃描三維圖繪制
提供三維視圖功能，更好地展示被測件在激勵狀態(tài)下的工作性能，另外還可以展示頻率切面和功率切面，可以直觀展現(xiàn)被測件在每個頻率點和每個功率點的特性。
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噪聲系數(shù)測量
一次連接，可同時測試S參數(shù)、噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、增益壓縮和變頻增益等多種參數(shù)。基于冷源噪聲系數(shù)測試方法，可進行精確的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測試。通過構建先進的噪聲相關矩陣模型，結合矢量網(wǎng)絡分析儀精密的S參數(shù)校準，適用于較小噪聲系數(shù)被測件的精確測試。測量動態(tài)范圍最大可達55dB，適用于較大增益被測件的測試。
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頻譜測量分析
矢量網(wǎng)絡分析儀的每個端口都可以完成被測件的輸入譜和輸出譜的測量，可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測件雜散譜和諧波的狀態(tài)。
針對有源器件的測試，頻譜測量功能可提供更多的測量參數(shù)，單臺儀器通過單次連接可實現(xiàn)常規(guī)的S參數(shù)測試、雜散和諧波的定位測量；完備的比值和絕對測量誤差修正技術可提供更準確的測量結果。
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信號完整性測量分析
具備強大的信號完整性測量分析能力，可提供微米級的空間分辨率。單一視圖同時完成時域和頻域測試分析，可以精準測試傳輸線上阻抗特性的變化情況；便捷的近端與遠端串擾測試，用于測試多條傳輸線之間相互影響的程度。
高級時域分析選件具備基于網(wǎng)絡參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標準，高級時域分析選件可以使用預先定義好的眼圖模板進行高效率Pass/Fail測試。
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總諧波失真（THD）測量分析
寬頻帶測試，可用于真差分激勵下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數(shù)的分析，簡化差分器件的諧波性能測試復雜度。
單次校準同時完成多通道的誤差修正，設置和測量參數(shù)的編輯可通過XML文件的方式進行，一鍵實現(xiàn)參數(shù)導入。
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自動夾具移除
對于非標準接頭器件測試，如封裝微波器件、在片器件等，此類器件無法與矢量網(wǎng)絡分析儀直接相連。通常使用夾具將被測件連接到矢量網(wǎng)絡分析儀上，但同時夾具也引入了測量誤差。自動夾具移除功能可以進行夾具參數(shù)的提取、存儲以及夾具去嵌入，最終獲得被測件的真實參數(shù)。
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極致的用戶體驗
界面簡潔直觀，便于操作，提高測試效率
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外設接口豐富，靈活實用
1-10MHz外參考輸入/輸出接口
2-110V/220V自適應電源輸入
3-可拆卸CPU模塊，配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口
4-激勵輸出、本振輸出等接口，提供靈活的測量配置，提供靈活的測量配置
5-外中頻輸入接口，脈沖輸入輸出接口
6-偏置T配置輸入接口
7-自動測試接口，觸發(fā)輸入/輸出接口，噪聲源電源接口
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掃描駐留時間 |
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