聯(lián)系電話:
400-168-4191
-
為您提供專用、可靠、精準(zhǔn)的
綜合測(cè)試解決方案
-
高速互聯(lián)組件測(cè)試機(jī)
查看更多
-
多通道無源組件自動(dòng)測(cè)試解決方案
查看更多
-
微波模塊環(huán)境試驗(yàn)通用巡測(cè)解決方案
查看更多
-
射頻無源器件高速測(cè)試解決方案
查看更多
-
T/R組件自動(dòng)測(cè)試解決方案
查看更多
-
微波產(chǎn)品無人化智能測(cè)試解決方案
查看更多
-
射頻集成電路測(cè)試系統(tǒng)
射頻集成電路測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)射頻集成電路的性能指標(biāo)測(cè)試要求，基于PXIe總線儀器為主體構(gòu)建的一種集射頻、數(shù)字、源測(cè)量等測(cè)試資源于一體且集成度高的集成電路綜合測(cè)試平臺(tái)。該系統(tǒng)具有開放式的系統(tǒng)體系架構(gòu)，可適用于集成電路設(shè)計(jì)驗(yàn)證、產(chǎn)線測(cè)試、入廠復(fù)檢等不同應(yīng)用場(chǎng)景，能夠滿足射頻前端類相關(guān)的功率放大器、低噪聲放大器、微波開關(guān)、濾波器、雙工器等器件的全指標(biāo)多工位并行自動(dòng)化測(cè)試需求。
查看更多
